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大气中子在先进存储器件中引起的软错误

作者：

(日)中村刚史[等]著

出版社：

国防工业出版社

出版时间：2015.10

ISBN：978-7-118-10284-0

本书分为绪论、大气中子能谱与剂量、大气层辐射实验、中子辐射实验装置、实验数据的评述与讨论、蒙特卡罗模拟方法、模拟结果及其意义等9章，主要包括：单粒子效应机制概述、定量评估方法概述、中子探测方法等。