本书内容包括:透射电子显微镜、扫描电子显微镜、原子力显微镜、薄膜X射线衍射、光致发光和电至发光、霍尔效应等。
本书从ⅢA-ⅤA族半导体化合物的基本原理、光电器件制备与工艺以及器件性能检测等方面,较系统地介绍了相关基础知识。
本书介绍半导体的结构学基础、物理学基础以及ⅢA-ⅤA族半导体化合物的电学性质、光学性质,半导体化合物的应用、光电器件的结构和工作原理等。
本书分上下两篇,上篇系统地介绍了硅热法和电解法炼镁的生产工艺、基本原理、设备及实际操作、粗镁的精炼等;下篇详尽地介绍了镁合金熔炼的基本原理,镁合金生产用设备及安全技术与操作,镁合金的生产工艺流程等。