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作者:

出版社:

华东理工大学出版社有限公司
出版时间:2020.10
ISBN:978-7-5628-6102-7

本书主要从太赫兹辐射源、探测器及相关测试技术出发,介绍了太赫兹频段辐射源、探测器及探测技术的基本概念和特点,阐述了太赫兹光电测试技术中所涉及的基本理论、测试原理与方法、测试系统组成和主要技术特点,最后介绍了太赫兹光电测试技术在光电器件标定、光路校准、成像系统与信号传输系统中的应用。