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作者:

出版社:

电子工业出版社
出版时间:2015.10
ISBN:978-7-121-27232-5

本书全面阐述了电子元器件可靠性物理的基本概念和失效物理模型。全书共13章,前两章介绍可靠性物理及其发展现状,并介绍了8类经典的失效物理模型及工程应用的意义;后11章分别论述了微电子器件、微波器件、光电子器件等。