本译作以CIGRE/CIRED/UIE联合工作组JWG C4.110于2010年发布的研究报告为主要依据，结合国内外对电压暂降对敏感设备和过程的影响和研究需要而译，目的在于呈现国外最新研究成果，并将该领域已被熟知的电压耐受能力与物理参数免疫力结合起来，帮助设备制造商、终端设备用户，更好地认识和理解设备抗电压暂降的能力和对设备抗电压暂降的免疫力的要求。解设备抗电压暂降的能力和对设备抗电压暂降的免疫力的要求。