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互换性与技术测量基础
普通高等教育“十二五”规划教材
作者:
于慧
,
高淑杰
主编
出版社:
化学工业出版社
出版时间:2014.10
ISBN:978-7-122-21012-8
本书分为互换性和技术测量两大部分,共十章。主要内容包括:绪论、极限与配合、几何公差及其检测、表面粗糙度与检测、测量技术基础、典型零件的公差与配合、实验指导书等。