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作者:

出版社:

电子科技大学出版社
出版时间:2012.04
ISBN:978-7-5647-1118-4

本书首次对密钥信息部分的逐渐泄露过程进行了研究,建立了密钥信息泄露过程模型,并根据模型较为准确地估计密钥寿命,从而可以设置合适的密钥更新周期。