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作者:

于秀山[等]编著

出版社:

电子工业出版社
出版时间:2014.04
ISBN:978-7-121-22632-8

本书从另外一个视角——程序缺陷的角度来探讨程序设计与优化。主要包括编码风格、内存管理、内存泄漏、缓冲区溢出、指针使用、安全等方面。对于每一种缺陷,通过实例分析了缺陷产生的原因,并给出了具体的修改和优化方法。

作者:

出版社:

电子工业出版社
出版时间:2011.03
ISBN:978-7-121-12969-8

全书共5章2个附录,分别介绍了程序设计缺陷静态分析方法、C/C++语言程序设计缺陷分析、Java语言程序设计缺陷分析、软件质量静态度量以及静态测试工具使用实践。