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边界扫描测试技术
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简介
本书主要从边界扫描技术的产生、原理以及应用三个方面,对边界扫描技术作了较为详细的介绍。包括用于数字电路测试的标准IEEE 1149.1、混合电路测试标准IEEE 1149.4、系统级测试标准IEEE 1149.5、高速数字网络边界扫描测试标准IEEE 1149.6,边界扫描技术在芯片设计中的应用等内容。
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