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程序设计缺陷分析与实践

作者：
尹浩，于秀山编著
出版社：
电子工业出版社

出版时间：
2011.03
ISBN：
978-7-121-12969-8
主题：
程序设计
中图法分类号：
TP311.1
【中图法分类】
T 工业技术 > TP自动化技术、计算机技术 > TP3计算技术、计算机技术 > TP31计算机软件
【学科分类】
工学 > 计算机科学与技术 > 计算机软件与理论

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简介

全书共5章2个附录，分别介绍了程序设计缺陷静态分析方法、C/C++语言程序设计缺陷分析、Java语言程序设计缺陷分析、软件质量静态度量以及静态测试工具使用实践。

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