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C/C++程序缺陷与优化

作者：
于秀山[等]编著
出版社：
电子工业出版社

出版时间：
2014.04
ISBN：
978-7-121-22632-8
主题：
C语言
中图法分类号：
TP312C
【中图法分类】
T 工业技术 > TP自动化技术、计算机技术 > TP3计算技术、计算机技术 > TP31计算机软件
【学科分类】
工学 > 计算机科学与技术 > 计算机软件与理论

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简介

本书从另外一个视角——程序缺陷的角度来探讨程序设计与优化。主要包括编码风格、内存管理、内存泄漏、缓冲区溢出、指针使用、安全等方面。对于每一种缺陷，通过实例分析了缺陷产生的原因，并给出了具体的修改和优化方法。

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